虚拟实验三：透射电子显微镜分析（TEM）

名称：透射电子显微镜

型号：JEM-2010(HR)

生产厂家：日本电子（株）（JEOL）

主要规格及技术指标：

1. 加速电压：200 kV

2. 点分辨率：0.23 nm；线分辨率：0.14 nm

3. 放大倍数：50×—1,500,000×

主要用途：

1.固体样品显微形貌观察

2.晶界及界面（显微结构及微区成分）研究

3.晶界相和异相粒子确定

4.晶体及界面缺陷分析