虚拟实验四：扫描电子显微镜分析（SEM）

仪器名称：场发射扫描电子显微镜

型号：JSM-6700F

生产厂家：日本电子（JEOL）

主要规格及技术指标：

1. 加速电压：0.5-30 kV

2. 分辨率：1.0 nm（15kV时）；2.2nm（1kV）

3. 放大倍数：25×—650,000×

主要用途：

1.材料表面和断面的形貌观测

2.颗粒大小测定

3.固体表面微区成分分析